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3D光學輪廓儀對各種產品，部件和材料的表面輪廓，粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。一句話概括就是超光滑表面（納米級）微觀形態的量度。傳統的機械零件由于受加工設備的限制，對精度包括平面度，粗糙度的要求常規下停留在微米量級。但隨著技術發展，人們對機械零件的加工精度要求開始向納米量級邁進，設備加工精度的提高帶動檢測技術的發展，傳統的檢測手段包括接觸式和2D方式的檢測方法對檢測納米量級精度的...

手持式合金分析儀是一種XRF光譜分析技術，X光管產生的X射線打到被測樣品時可以擊出原子的內層電子，出現殼層空穴，當外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時，就會產生特征X射線。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成。手持式合金分析儀可以使用低功率X射線管分析合金元素。發射的x射線和返回的x射線都是低功率的，測量時必須使手持式合金分析儀接近樣品。理想的是使樣品進行直接通過接...

高性能X射線熒光分析儀采用良好的硅SIPIN探測器（分辨率為150ev），實現了無液態氮檢出器下高靈敏度的檢測功能。配備自動切換的濾光片及透射式X射線球管，大程度地縮小了X射線源與被測物體的間距，從而在較低的電壓下達到同樣的激發效率，同時減少了漫射光的干擾，大大地提高了靈敏度和讀數的性，重復性。高性能X射線熒光分析儀主要有以下幾個特點：1、在測定微量成分時，由于X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X...

手持式合金分析儀在金屬制造行業中，材料、半成品、成品的質量與質量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業帶來損失。手持式合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機的各種制造業。已成為質量體系中材料確認、半成品檢驗、成品復檢的儀器。手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術，可用于確認物質里的特定元素，同時將其量化。它可以根據X射線的發射波長(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過測量相應射線的密度來確定此元素的量。如此一來，XRF度普術就能測定物質的元素...

光學薄膜厚度測量儀是一種非接觸式測量儀器，一般會運用在生產廠商生產產品的過程，由于誤差經常會導致產品全部報廢，這時候就需要運用光學薄膜厚度測量儀來介入到生產環境，避免這種情況的發生。由于是光學測量，在測量時候無須擔心破壞樣品，讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。光學薄膜厚度測量儀的優點：1.非接觸式測量光學薄膜厚度測量儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何...

薄膜厚度測量儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。在做測厚的時候要注意以下八點：1、在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。2、在測量的時候要注意，側頭與試樣表面保持垂直。3、在進行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。4、在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。5、測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將...