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KLA光學(xué)輪廓儀在鈣鈦礦電池到半導(dǎo)體制造的超薄膜厚度測(cè)量中，憑借其高精度、非接觸式測(cè)量和多功能性，成為關(guān)鍵工具，具體應(yīng)用如下：一、鈣鈦礦太陽(yáng)能電池中的超薄膜厚度測(cè)量TCO層測(cè)量：重要性：TCO層是鈣鈦礦太陽(yáng)能電池的重要組成部分，必須在導(dǎo)電性能良好的情況下具有很高的透光率、低電阻和高熱穩(wěn)定性。測(cè)量實(shí)例：使用KLA光學(xué)輪廓儀，可以精確測(cè)量玻璃上IZO薄膜的厚度，如6.8nm和37.1nm的樣品。ETL層測(cè)量：重要性：ETL層在鈣鈦礦太陽(yáng)能電池中具有收集電子、傳輸電子并阻隔空穴以降...

光學(xué)表面輪廓儀通常由一個(gè)激光測(cè)距儀和一個(gè)移動(dòng)平臺(tái)組成。激光測(cè)距儀通過(guò)發(fā)射激光束并接收返回的激光信號(hào)，可以精確地測(cè)量物體的距離。移動(dòng)平臺(tái)則用于控制激光測(cè)距儀在水平和垂直方向上的移動(dòng)，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)物體輪廓的全面掃描。在測(cè)量過(guò)程中，光學(xué)表面輪廓儀會(huì)將物體的輪廓點(diǎn)云數(shù)據(jù)采集下來(lái)，并通過(guò)特定的算法進(jìn)行處理和分析。這些算法可以將點(diǎn)云數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為三維模型，并進(jìn)一步提取出物體的尺寸、曲率、角度等信息。利用這些數(shù)據(jù)，工程師和設(shè)計(jì)師可以更好地了解物體的結(jié)構(gòu)和形狀，從而進(jìn)行下一步的設(shè)計(jì)和制造工作。光學(xué)...

XRF鍍層測(cè)厚儀是高精度分析設(shè)備，長(zhǎng)期使用可能因環(huán)境、操作或部件老化出現(xiàn)故障。及時(shí)排查隱患可保障測(cè)量穩(wěn)定性，本文總結(jié)常見(jiàn)故障場(chǎng)景及應(yīng)對(duì)方案。??一、測(cè)量數(shù)據(jù)偏差異常????1.基材污染??若數(shù)據(jù)持續(xù)偏高，需檢查樣品表面是否殘留油污或氧化層。用酒精/丙酮擦拭后重新測(cè)量，若差異5%，需用砂紙輕拋基材表面消除干擾。??2.標(biāo)樣校準(zhǔn)失效??定期用標(biāo)準(zhǔn)膜校準(zhǔn)，若比對(duì)偏差±10%，需重新標(biāo)定。注意：校準(zhǔn)時(shí)選擇與樣品同基材的標(biāo)準(zhǔn)片，避免材質(zhì)差異導(dǎo)致誤差。??二、X射線(xiàn)發(fā)生器異...

光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x是一種用于測(cè)量材料表面涂層厚度的精密儀器，廣泛應(yīng)用于金屬、塑料、陶瓷等材料的涂層厚度檢測(cè)。在日常使用過(guò)程中，膜厚儀可能會(huì)出現(xiàn)一些故障，需要進(jìn)行維修。光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x常見(jiàn)故障的維修解決方法：1.膜厚儀無(wú)法開(kāi)機(jī)先檢查電源線(xiàn)是否連接正常，電源插座是否有電。如果電源沒(méi)有問(wèn)題，可能是儀器內(nèi)部的電源模塊出現(xiàn)故障，需要更換電源模塊。在更換電源模塊時(shí)，務(wù)必關(guān)閉電源，避免觸電。2.膜厚儀顯示異常如果膜厚儀在使用過(guò)程中出現(xiàn)顯示異常，如顯示閃爍、亂碼等現(xiàn)象，可能是顯示屏或顯示驅(qū)動(dòng)電路出...

在半導(dǎo)體、先進(jìn)材料與精密制造領(lǐng)域，KLA公司作為檢測(cè)與量測(cè)設(shè)備供應(yīng)商，其研發(fā)的光學(xué)輪廓儀（如KLA-Tencor系列）被譽(yù)為“納米級(jí)火眼金睛”。這類(lèi)非接觸式三維表面形貌測(cè)量系統(tǒng)，廣泛應(yīng)用于芯片制造、存儲(chǔ)器件、光電子和研發(fā)實(shí)驗(yàn)室，用于精確表征微觀結(jié)構(gòu)的幾何形貌與表面質(zhì)量，是保障先進(jìn)制程良率的核心工具。精準(zhǔn)用途：為微觀世界“畫(huà)像”KLA光學(xué)輪廓儀主要用于測(cè)量晶圓表面的臺(tái)階高度、薄膜厚度、表面粗糙度（Ra、RMS）、翹曲度、缺陷形貌及微結(jié)構(gòu)尺寸（如Trench、Via）。在半導(dǎo)體工...

探針式表面輪廓儀廣泛應(yīng)用于表面形貌的測(cè)量與分析，其主要通過(guò)接觸式探針掃描被測(cè)表面，獲得其三維輪廓數(shù)據(jù)。然而，在長(zhǎng)期使用過(guò)程中，設(shè)備可能會(huì)遇到各種問(wèn)題和故障。了解常見(jiàn)故障的原因，并掌握相應(yīng)的處理方法，對(duì)于確保設(shè)備的精度和延長(zhǎng)使用壽命至關(guān)重要。以下是一些常見(jiàn)問(wèn)題和故障及其處理方法。一、探針無(wú)法正常接觸表面故障原因：1.探針損壞：探針頭可能因長(zhǎng)期使用或不當(dāng)操作而損壞，導(dǎo)致無(wú)法與表面良好接觸。2.儀器校準(zhǔn)不當(dāng)：如果儀器沒(méi)有正確校準(zhǔn)，探針可能無(wú)法精確定位到待測(cè)表面。3.表面污染：待測(cè)表...