為期三天的Semiexpo Shenzhen 2019深圳半導(dǎo)體展覽會已于2019年6月16日于深圳會展中心圓滿閉幕。

欣逢盛會，優(yōu)尼康科技攜數(shù)臺產(chǎn)品赴會。其中Profilm3D光學(xué)輪廓儀，其低成本，高精度，超大的視場范圍面積，讓光學(xué)輪廓測量變得容易承受；Filmetrics F50反射式膜厚儀，簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。非常快速的定位測試的點，快速測試厚度。Filmetrics F20薄膜厚度測量系統(tǒng)，其高，性價比高。

展會期間，作為薄膜厚度與表面輪廓測量，我司技術(shù)人員為蒞臨展位的客戶詳細(xì)解答各種疑難問題，與新老客戶進(jìn)行了十分愉快的溝通與交流。贏得了新老客戶的*。

在未來的發(fā)展路上，我司會以赴，將我們經(jīng)營理念“真誠，專注，信賴”服務(wù)于大家。

展會現(xiàn)場

優(yōu)尼康盤總現(xiàn)場接受CCTV采訪

參展人員合影留念