XRF鍍層測厚儀主要應用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

　　XRF鍍層測厚儀的測量工作原理：

　　1、磁性測厚法：

　　適用導磁材料上的非導磁層厚度測量。導磁材料一般為:鋼鐵銀鎳。此種方法測量精度高（如：鐵等磁性材料）

　　2、渦流測厚法：

　　渦流測量原理是高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。與磁感應測厚法一樣，渦流測厚法也達到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

　　影響XRF鍍層測厚儀的因素有：

　　1、試件的變形：丈量頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出牢靠的數(shù)據(jù)。

　　2、邊緣效應：本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行丈量是不牢靠的。

　　3、基體金屬電性質：基體金屬的電導率對丈量有影響，而基體金屬的電導率與其資料成分及熱處理方法有關。運用與試件基體金屬具有相同性質的規(guī)范片對儀器進行校準。

　　4、基體金屬厚度：每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，丈量就不受基體金屬厚度的影響。

　　5、曲率：試件的曲率對丈量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在曲折試件的表面上丈量是不牢靠的。

　　6、基體金屬磁性質：磁性法測厚受基體金屬磁性改變的影響(在實踐運用中，低碳鋼磁性的改變能夠認為是輕微的)，為了防止熱處理和冷加工因素的影響，應運用與試件基體金屬具有相同性質的規(guī)范片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。